一、冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱，三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱）根據(jù)試品使用的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和一箱式靜態(tài)沖擊，冷熱沖擊試驗(yàn)箱既可作冷熱沖擊試驗(yàn)，也可作單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。廣泛用于航空、航天、科研單位、電子、IT行業(yè)等模擬試品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的**性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等，可通過(guò)此試驗(yàn)，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

二、冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要特點(diǎn):

 電路板三箱式高低溫箱 提籃式溫度沖擊試驗(yàn)箱 冷熱沖擊測(cè)試箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱：

兩箱式：高低溫室轉(zhuǎn)換采用氣動(dòng)控制，轉(zhuǎn)換時(shí)間短，溫度恢復(fù)時(shí)間短，溫變速度快，結(jié)構(gòu)緊湊，體積小。兩箱式是一個(gè)高溫室，一個(gè)低溫室，一個(gè)吊蘭。

三箱式：測(cè)試樣品一直處于靜態(tài)，其溫度的轉(zhuǎn)換通過(guò)氣動(dòng)系統(tǒng)打開（關(guān)閉）不同風(fēng)門來(lái)實(shí)現(xiàn)，便于進(jìn)行在線測(cè)試，測(cè)試樣品不受任何機(jī)械沖擊，使用可靠性高。三箱式是一個(gè)除冷室，一個(gè)除熱室，一個(gè)工作室。

標(biāo)準(zhǔn)配置 觀察窗（雙層中空鋼化玻璃）1個(gè)；測(cè)試孔50mm（位于左邊）1個(gè)；樣品架；箱內(nèi)照明燈（熒光燈）1個(gè)  

附屬功能 定時(shí)器、超溫保護(hù)、傳感器上下風(fēng)選擇、停電保護(hù)、報(bào)警記錄、試驗(yàn)曲線記錄、試驗(yàn)暫停、程序運(yùn)行時(shí)間顯示  

安全裝置 漏電斷路器，試驗(yàn)室溫度過(guò)高、過(guò)低保護(hù)器（控制器內(nèi)置），排氣閥，試樣電源控制端子，高、低溫室超溫保護(hù)（控制器內(nèi)置），壓縮機(jī)超壓、過(guò)熱保護(hù)，斷水繼電器，風(fēng)機(jī)熱繼電器，電動(dòng)機(jī)溫度開關(guān)，電動(dòng)機(jī)反轉(zhuǎn)防止繼電器，壓縮空氣壓力開關(guān)，保險(xiǎn)絲 。

 電路板三箱式高低溫箱 提籃式溫度沖擊試驗(yàn)箱 冷熱沖擊測(cè)試箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

GB/T 5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

GJB 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)

GJB 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)

GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)