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高低溫測試是用來確定產(chǎn)品在高溫或低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)送、運(yùn)用的適應(yīng)性的辦法。
實(shí)驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫或低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)刻。



一、高低溫測試標(biāo)準(zhǔn):


GB_T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境實(shí)驗(yàn)第2部分:實(shí)驗(yàn)辦法實(shí)驗(yàn)B:高溫


G2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境實(shí)驗(yàn)第2部分:實(shí)驗(yàn)辦法實(shí)驗(yàn)A:低溫


IEC根本環(huán)境實(shí)驗(yàn)規(guī)程第2-2部分:實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)B干熱


IEC:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境實(shí)驗(yàn):低溫


二、適用的行業(yè)包括:


電子、元器件、電路板、通訊、LED、液晶屏、儀器儀表、電容、車輛、醫(yī)藥、塑膠、金屬、化學(xué)、建材等行業(yè)產(chǎn)品。





三、高低溫實(shí)驗(yàn)箱主要能夠展開以下項(xiàng)目實(shí)驗(yàn):


高溫實(shí)驗(yàn)


實(shí)驗(yàn)意圖:用來查核實(shí)驗(yàn)樣品在高溫條件下儲存或運(yùn)用的適應(yīng)性。
應(yīng)用于比如像熱帶天氣或煉鋼廠等高溫環(huán)境下作業(yè)的儀器、設(shè)備等。



實(shí)驗(yàn)設(shè)備:高低溫(濕熱)實(shí)驗(yàn)箱。



實(shí)驗(yàn)條件:一般選定一穩(wěn)定的溫度應(yīng)力和堅(jiān)持時(shí)刻。



優(yōu)選常用溫度:200℃，175℃，155℃，125℃，100℃，85℃，70℃，55℃等;




優(yōu)選常用的實(shí)驗(yàn)時(shí)刻有:2h，16h，72h，96h等。