低溫試驗：主要用于評價(jià)在貯存、工作和拆裝操作期間，低溫條件下對裝備的安全性、完整性和性能的影響。

低溫試驗分為三個(gè)程序：程序1貯存，程序2工作，程序3拆裝操作.低溫貯存試驗若無(wú)特殊要求，可選取24小時(shí)，低溫工作至少溫度穩定后保持2小時(shí)。

低溫試驗技術(shù)和方法1.試驗目的低溫試驗用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下存儲和使用的適應性，常用于產(chǎn)品在開(kāi)發(fā)階段的型式試驗和元器件的篩選試驗。2.試驗條件按照國標GB2423.1-2008規定如下：（1）非散熱試驗樣品低溫試驗Ab：溫度漸變。（2）散熱試驗樣品低溫試驗Ad:溫度漸變。試驗的嚴酷程度由溫度和持續時(shí)間確定。溫度：-65℃；-55℃；-40℃；-25℃；-10℃；-5℃；+5℃。

試驗溫度的允許偏差均為±3℃。持續時(shí)間：2h；16h；72h；96h。

3.試驗程序試驗Ab：非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗，用以確定非散熱的電子電工產(chǎn)品（包括元件、設備或其他產(chǎn)品）低溫下存儲和使用的適應性。將處于室溫的試驗樣品，按正常位置放入試驗箱內，開(kāi)動(dòng)冷源，使試驗箱溫度從室溫降低到規定試驗溫度并使試驗樣品達到溫度穩定。箱內溫度變化速率為不大于1℃/min（不超過(guò)5min時(shí)間的平均值）。試驗Ad：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗，確定散熱電子電工產(chǎn)品（包括元器件、設備或其他產(chǎn)品）低溫條件下使用的適應性。

4.有關(guān)技術(shù)和設備要求（1）有關(guān)技術(shù)。若試驗的目的僅僅是檢查試驗樣品在低溫時(shí)能否正常工作，則試驗的時(shí)間只限于使試驗樣品溫度達到穩定即可；若作為與低溫耐久性或可靠性相聯(lián)系的有關(guān)試驗時(shí)，則其試驗所需的持續時(shí)間按有關(guān)標準規定。

試驗時(shí)要注意區分兩類(lèi)試驗樣品：無(wú)人工冷卻的試驗樣品和有人工冷卻的試驗樣品。無(wú)人工冷卻的試驗樣品分為無(wú)強迫空氣循環(huán)的試驗和有強迫空氣循環(huán)的試驗，無(wú)強迫空氣循環(huán)的試驗，是模擬自由空氣條件影響的一種試驗方法。有強迫空氣循環(huán)的試驗，有兩種方法。方法A適用于試驗箱足夠大，不用強迫空氣循環(huán)也可滿(mǎn)足試驗要求，但僅能借助空氣循環(huán)才能保持箱內的環(huán)境溫度。方法B用于方法A不能應用的場(chǎng)合，例如，用作試驗的試驗箱體積太小，當無(wú)強迫空氣循環(huán)就不能符合試驗要求的場(chǎng)合。有人工冷卻的試驗樣品，一般可按無(wú)強迫空氣循環(huán)方法進(jìn)行試驗。這三項低溫試驗對于試驗樣品的工作性能試驗，必須按有關(guān)標準規定對試驗樣品給予通電或電氣負載，并檢查確定能否達到規定的功能。按要求施加規定的試驗條件前，應對樣品進(jìn)行外觀(guān)及電氣和機械性能的初始檢測，按有關(guān)標準的規定在試驗期間或結束時(shí)加負載和進(jìn)行中間檢測，檢測時(shí)試驗樣品不應從試驗箱中取出。

按照規定要求進(jìn)行恢復，后對樣品進(jìn)行外觀(guān)及電氣和機械性能的檢測。（2）試驗設備要求。試驗箱應能夠在試驗工作空間內保持規定的溫度條件，可以采用強迫空氣循環(huán)來(lái)保持溫度均勻。為了限制輻射影響，試驗箱內壁各部分溫度與規定試驗溫度之差不應超過(guò)8%（按開(kāi)爾文溫度計），且試驗樣品不應受到不符合上述要求的任何加熱與冷卻元器件的直接輻射。