【產(chǎn)品名稱(chēng)】

晶彩科技 – 8吋至12吋 Wafer Auto AI AOI/OM(晶圓自動(dòng)AI光學(xué)檢測機)

【設備規格與特色】

配備8"/12" LoadPort，支持Open Cassette、FOUP、FOSB等不同晶圓傳送形式。

具備AI實(shí)時(shí)缺陷檢測功能，實(shí)現即拍即檢即分類(lèi)，提升檢測效率。

支持KLARF文件格式，可進(jìn)行晶圓分區、分Die、以及Defect size & type分析，提供完整清楚的檢測結果。

高速自動(dòng)缺陷拍照，確保制程檢查中不遺漏微小缺陷。

采用BF+DF光源設計，提供優(yōu)越的光學(xué)成像效果，更能有效區分不同缺陷類(lèi)型。

可檢測Minimize缺陷尺寸：0.4微米(μm)，實(shí)現高靈敏度檢測。

支持SECSGEM200/300標準，實(shí)現高度自動(dòng)化的工廠(chǎng)設備整合。

晶彩科技的8"-12" Wafer Auto AI AOI/OM(晶圓自動(dòng)AI光學(xué)檢測機)，LoadPort搭載檢測系統展現卓越的功能與性能，不僅提供靈活多樣的晶圓傳送形式，擁有AI實(shí)時(shí)缺陷檢測功能，實(shí)現即拍即檢即分類(lèi)，使檢測過(guò)程更為高效。機臺更支持KLARF文件格式的特性使得機臺能夠進(jìn)行晶圓分區、分Die、以及Defect size & type分析，提供完整的檢測報告，幫助制造商更有效地管理質(zhì)量控制。

高速自動(dòng)缺陷拍照功能確保在制程中能夠實(shí)時(shí)偵測并記錄微小缺陷，保持生產(chǎn)質(zhì)量的持續高水平。BF+DF光源設計提升光學(xué)成像效果，有助于更準確區分不同缺陷類(lèi)型，并可檢測Minimize缺陷尺寸達到0.4微米(μm)確保微小缺陷不被忽略。

【晶彩科技 – AI AOI卓越品牌】

晶彩科技擁有超過(guò)24年的豐富光學(xué)檢量測經(jīng)驗，深耕AOI領(lǐng)域多年，設備多年來(lái)獲得國內外大廠(chǎng)的采用高度信賴(lài)。我們深諳AOI技術(shù)的四大核心領(lǐng)域：光學(xué)、檢測、軟件控制、機構，并致力于以匠人之心打造每一臺AOI檢量測設備，為客戶(hù)提供可靠的設備與服務(wù)。

晶彩科技位于上海的子公司「晶隼彩光電科技（上海）有限公司」，亦為晶彩科技在中國大陸地區，提供更全面的國際化服務(wù)。

【營(yíng)業(yè)據點(diǎn)】

晶彩科技總部位于臺灣地區新竹竹北，在臺中與臺南擁有辦公室。晶彩科技亦在上海設有分公司晶隼彩光電科技（上海）有限公司，專(zhuān)注處理設備進(jìn)出口、技術(shù)相關(guān)之其他設備服務(wù)事宜。

為提供中國地區的高效快速的服務(wù)，晶彩科技于上海、咸陽(yáng)、滁州、昆山、重慶、福建、武漢、浙江、廣州、長(cháng)沙、深圳等地設有服務(wù)據點(diǎn)，以實(shí)現全國范圍內客戶(hù)的快速支持，打造全方位的AOI產(chǎn)業(yè)布局。

晶彩科技檢量測設備一覽

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