廣東X-射線光電子能譜檢測材料表面成分

表面分析實驗室配備有世界先進水平的表面分析儀器，可為數(shù)據存儲、半導體，光電子器件、納米科技等高科技企業(yè)提供綜合性的表面分析服務，以滿足其亞微米級分辨率、痕量表面靈敏度、微區(qū)樣品加工和薄膜分析的要求。

分析技術手段

俄歇納米探針系統(tǒng)

飛行時間二次離子質譜儀

X-射線光電子能譜儀

納米壓痕儀

掃描電子顯微鏡

超級掃描電子顯微鏡

能量色散譜儀

透射電子顯微鏡

原子力顯微鏡

聚焦離子束

精細研磨設備

服務范圍

材料表征和表面成份分析, 納米級到微米級

界面擴散分析

表面腐蝕分析

表面攙雜改性分析

失效分析

表面形貌分析

薄膜分析

表面污染物分析

鍍層厚度和成份分析

檢測材料表面成分的方法

檢測材料表面成分是材料科學領域的一個重要分支，它涉及到一系列精密的分析技術，用于確定材料表面的元素組成、化學狀態(tài)以及分子結構。以下是幾種常用的檢測方法：

X射線能量色散譜法（EDX）

X射線能量色散譜法（EDX）是一種常與電子顯微鏡配合使用的分析方法，它可以測量電子與試樣相互作用所產生的特征X射線的波長與強度，從而對微小區(qū)域所含元素進行定性或定量分析。每種元素都有一個特定波長的特征X射線與之相對應，它不隨入射電子的能量而變化，測量電子激發(fā)試樣所產生的特征X射線波長的種類，即可確定試樣中所存在元素的種類。元素的含量與該元素產生的特征X射線強度成正比，據此可以測定元素的含量。

電子能譜分析法

電子能譜分析法是采用單色光源或電子束去照射樣品，使樣品中電子受到激發(fā)而發(fā)射出來，測量這些電子的強度與能量的分布，從而獲得材料信息。電子能譜的采樣深度僅為幾納米，它僅僅是表面成分的反應。

X射線衍射法（XRD）

X射線衍射法（XRD）也可以輔助用來進行物相的定量分析。它的依據是，物相的衍射線強度隨著含量的增加而提高。并不成正比，需要加以修正，采用Jade程序就可以對物相進行定量分析。

質譜法（MS）

質譜法（MS）是將被測物質離子化，按離子的質荷比分離，測量各種離子譜峰的強度而實現(xiàn)分析目的的一種分析方法。質量是物質的固有特征之一，不同的物質有不同的質量譜（簡稱質譜），利用這一性質，可以進行定性分析；譜峰強度也與它代表的化合物含量有關，可以用于定量分析。

分光光度計法

分光光度計法采用一個可以產生多個波長的光源，通過系列分光裝置，從而產生特定波長的光源，光線透過測試的樣品后，部分光線被吸收，計算樣品的吸光值，從而轉化成樣品的濃度，吸光值與樣品的濃度成正比。它包括可見分光光度計和紫外分光光度計。

火花直讀光譜儀

火花直讀光譜儀用電火花的高溫使樣品中各元素從固態(tài)直接氣化并被激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長，用光柵分光后，成為按波長排列的光譜，這些元素的特征光譜線通過出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號變成電信號，經儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并進行模/數(shù)轉換，由計算機處理，并打印出各元素的百分含量。

掃描電子顯微鏡（SEM）

掃描電子顯微鏡（SEM）通過電子束掃描樣品表面，獲取高分辨率圖像并進行元素分析。它適用于材料表面特性分析、缺陷分析、微觀結構研究等。

透射電子顯微鏡（TEM）

透射電子顯微鏡（TEM）通過透射電子束對薄樣品進行成像，分析其微觀結構。它適用于納米材料研究、晶體結構分析等。