廣東X-射線(xiàn)光電子能譜檢測材料表面成分

表面分析實(shí)驗室配備有世界先進(jìn)水平的表面分析儀器，可為數據存儲、半導體，光電子器件、納米科技等高科技企業(yè)提供綜合性的表面分析服務(wù)，以滿(mǎn)足其亞微米級分辨率、痕量表面靈敏度、微區樣品加工和薄膜分析的要求。

分析技術(shù)手段

俄歇納米探針系統

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀

X-射線(xiàn)光電子能譜儀

納米壓痕儀

掃描電子顯微鏡

超級掃描電子顯微鏡

能量色散譜儀

透射電子顯微鏡

原子力顯微鏡

聚焦離子束

精細研磨設備

服務(wù)范圍

材料表征和表面成份分析, 納米級到微米級

界面擴散分析

表面腐蝕分析

表面攙雜改性分析

失效分析

表面形貌分析

薄膜分析

表面污染物分析

鍍層厚度和成份分析

檢測材料表面成分的方法

檢測材料表面成分是材料科學(xué)領(lǐng)域的一個(gè)重要分支，它涉及到一系列精密的分析技術(shù)，用于確定材料表面的元素組成、化學(xué)狀態(tài)以及分子結構。以下是幾種常用的檢測方法：

X射線(xiàn)能量色散譜法（EDX）

X射線(xiàn)能量色散譜法（EDX）是一種常與電子顯微鏡配合使用的分析方法，它可以測量電子與試樣相互作用所產(chǎn)生的特征X射線(xiàn)的波長(cháng)與強度，從而對微小區域所含元素進(jìn)行定性或定量分析。每種元素都有一個(gè)特定波長(cháng)的特征X射線(xiàn)與之相對應，它不隨入射電子的能量而變化，測量電子激發(fā)試樣所產(chǎn)生的特征X射線(xiàn)波長(cháng)的種類(lèi)，即可確定試樣中所存在元素的種類(lèi)。元素的含量與該元素產(chǎn)生的特征X射線(xiàn)強度成正比，據此可以測定元素的含量。

電子能譜分析法

電子能譜分析法是采用單色光源或電子束去照射樣品，使樣品中電子受到激發(fā)而發(fā)射出來(lái)，測量這些電子的強度與能量的分布，從而獲得材料信息。電子能譜的采樣深度僅為幾納米，它僅僅是表面成分的反應。

X射線(xiàn)衍射法（XRD）

X射線(xiàn)衍射法（XRD）也可以輔助用來(lái)進(jìn)行物相的定量分析。它的依據是，物相的衍射線(xiàn)強度隨著(zhù)含量的增加而提高。并不成正比，需要加以修正，采用Jade程序就可以對物相進(jìn)行定量分析。

質(zhì)譜法（MS）

質(zhì)譜法（MS）是將被測物質(zhì)離子化，按離子的質(zhì)荷比分離，測量各種離子譜峰的強度而實(shí)現分析目的的一種分析方法。質(zhì)量是物質(zhì)的固有特征之一，不同的物質(zhì)有不同的質(zhì)量譜（簡(jiǎn)稱(chēng)質(zhì)譜），利用這一性質(zhì)，可以進(jìn)行定性分析；譜峰強度也與它代表的化合物含量有關(guān)，可以用于定量分析。

分光光度計法

分光光度計法采用一個(gè)可以產(chǎn)生多個(gè)波長(cháng)的光源，通過(guò)系列分光裝置，從而產(chǎn)生特定波長(cháng)的光源，光線(xiàn)透過(guò)測試的樣品后，部分光線(xiàn)被吸收，計算樣品的吸光值，從而轉化成樣品的濃度，吸光值與樣品的濃度成正比。它包括可見(jiàn)分光光度計和紫外分光光度計。

火花直讀光譜儀

火花直讀光譜儀用電火花的高溫使樣品中各元素從固態(tài)直接氣化并被激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長(cháng)，用光柵分光后，成為按波長(cháng)排列的光譜，這些元素的特征光譜線(xiàn)通過(guò)出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號變成電信號，經(jīng)儀器的控制測量系統將電信號積分并進(jìn)行模/數轉換，由計算機處理，并打印出各元素的百分含量。

掃描電子顯微鏡（SEM）

掃描電子顯微鏡（SEM）通過(guò)電子束掃描樣品表面，獲取高分辨率圖像并進(jìn)行元素分析。它適用于材料表面特性分析、缺陷分析、微觀(guān)結構研究等。

透射電子顯微鏡（TEM）

透射電子顯微鏡（TEM）通過(guò)透射電子束對薄樣品進(jìn)行成像，分析其微觀(guān)結構。它適用于納米材料研究、晶體結構分析等。