五大常規(guī)無損檢測(cè)技術(shù)：射線檢測(cè)（Radiographic Testing）、超聲檢測(cè)（Ultrasonic Testing）、磁粉檢測(cè)（Magnetic Particle Testing）、滲透檢測(cè)（Penetrant Testing）、渦流檢測(cè)（Eddy Current Testing）。

一：射線檢測(cè)（RT）的原理和特點(diǎn)

射線檢測(cè)（Radiographic Testing），業(yè)內(nèi)人士簡(jiǎn)稱RT，是工業(yè)無損檢測(cè)（Nondestructive Testing）的一個(gè)重要專業(yè)門類。

射線檢測(cè)主要的應(yīng)用是探測(cè)工件內(nèi)部的宏觀幾何缺陷。按照不同特征，可將射線檢測(cè)分為多種不同的方法，例如：X射線層析照相（X-CT）、計(jì)算機(jī)射線照相技術(shù)（CR）、射線照相法，等等。

下圖：

第一行左起一：固定式磁粉探傷機(jī)；第一行左起二：射線檢測(cè)室的防護(hù)屏蔽門。

第二行左起一：便攜式X射線管；第二行左起二：A型顯示的模擬式超聲波探傷儀。

射線照相法，利用X射線管產(chǎn)生的X射線或放射性同位素產(chǎn)生的γ射線穿透工件，以膠片作為記錄信息的器材的無損檢測(cè)方法。該方法是最基本、應(yīng)用最廣泛的的一種射線檢測(cè)方法，也是射線檢測(cè)專業(yè)培訓(xùn)的主要內(nèi)容。

射線照相法的原理

射線檢測(cè)，本質(zhì)上是利用電磁波或者電磁輻射（X射線和γ射線）的能量。

射線在穿透物體過程中會(huì)與物質(zhì)發(fā)生相互作用，因吸收和散射使其強(qiáng)度減弱。強(qiáng)度衰減程度取決于物質(zhì)的衰減系數(shù)和射線在物質(zhì)中穿透的厚度。

射線照相法的原理：如果被透照物體（工件）的局部存在缺陷，且構(gòu)成缺陷的物質(zhì)的衰減系數(shù)又不同于試件（例如在焊縫中，氣孔缺陷里面的空氣衰減系數(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于鋼的衰減系數(shù)），該局部區(qū)域的透過射線強(qiáng)度就會(huì)與周圍產(chǎn)生差異。把膠片放在適當(dāng)位置使其在透過射線的作用下感光，經(jīng)過暗室處理后得到底片。

射線穿透工件后，由于缺陷部位和完好部位的透射射線強(qiáng)度不同，底片上相應(yīng)部位等會(huì)出現(xiàn)黑度差異。射線檢測(cè)員通過對(duì)底片的觀察，根據(jù)其黒度的差異，便能識(shí)別缺陷的位置和性質(zhì)。